ISBN/价格: | 978-7-121-43264-4:CNY89.00 |
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作品语种: | chi eng |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 最优试验设计/.(美) Peter Goos, Bradley Jones著/.杨贵军 ... [等] 译 |
出版发行项: | 北京:,电子工业出版社:,2022.4 |
载体形态项: | 216页:;+图:;+26cm |
丛编项: | 统计分析系列 |
提要文摘: | 本著作主要阐述D-最优和I-最优试验设计的应用, 内容主要围绕筛选设计、响应曲面设计、混料设计以及裂区设计来讨论在相应试验情形下的最优设计。 |
题名主题: | 试验设计 |
中图分类: | TB21 |
个人名称等同: | 古斯 著 |
个人名称等同: | 琼斯 著 |
个人名称次要: | 杨贵军 译 |
个人名称次要: | 杨雪 译 |
记录来源: | CN 百万庄 20230315 |